SPC software a SPC stanice - Statistická regulace výroby

Q-LanYs Novinky v modulu SPC ...

Software SPC slouží pro zajištění statistické regulace výrobního procesu a monitorování kvalitativních parametrů výrobků. Vstup dat je možno provádět prostřednictvím klávesnice, přímým čtením dat z měřidel připojených k SPC stanici nebo automatickým sběrem dat prostřednictvím měřízích zařízení a snímačů.

Modul SPC pro měřitelné parametry podporuje více typů rozdělení Normal, Weibull, Rayleigh, Beta, Exponencial, Fisher-F, Gamma, Chi-squared, LogNormal a Student-T. Je také k dispozici Box-Coxova transformace.

Ke statistické regulaci procesů jsou k dispozici regulační karty X−Rs (karta individuálních hodnot), X−Rst (karta individuálních hodnot - cílová), X−R, X−s, Me−R (mediánová karta) a pro atributivní znaky regulační karty c, u, p, np. Při provádění vlastního měření program zajišťuje okamžité vykreslení sledovaných charakteristik do regulační karty, přepočítání regulačních mezí a ukazatelů Cp, Cpk, Pp, Ppk včetně konfidenčních intervalů.

Pro detailnější analýzu sledovaných procesů jsou k dispozici tabulka důležitých ukazatelů procesu, tabulka naměřených hodnot, Q-Q Plot, histogram včetně vykreslení křivky hustoty pravděpodobnosti (Gaussovy křivky,...), testy shody se stanoveným typem rozdělení, test odlehlosti naměřených hodnot, grafické vyhodnocení trendu procesu a další nástroje umožňující výběr požadovaného souboru dat pro analýzu.

Pro monitorování atributivních znaků nebo zmetkovitosti procesu jsou k dispozici nástroje pro sběr a vyhodnocení atributivních parametru (sběrných karet vad). Blíže popsáno v modulu Zmetkové hlášení – Sběrné karty vad.

Souhrn hlavních prvků modulu SPC:

  • jednoduchá a rychlá definice plánu regulační karty
  • nástroje pro výpočet fixních regulačních mezí vycházející z požadavku zákazníka nebo ze znalosti variability procesu
  • nastavení pořadí měření podle výrobků nebo podle parametrů
  • možnost vložení foto k měřeným parametrům (vizualizace jak provádět měření)
  • možnost přímého propojení s měřidly a měřícími zařízeními pro automatické monitorování kvalitativních parametrů výrobků
  • funkce pro sestrojení Q-Q Plot a Histogramu včetně vykreslení křivky hustoty pravděpodobnosti daného typu rozdělení
  • testy normality, testy shody s nenormálními typy rozdělení<-li>
  • test odlehlosti naměřených hodnot
  • zobrazení tabulky naměřených hodnot včetně jména operátora
  • výpočet důležitých statistických ukazatelů procesu včetně přirozených regulačních mezí
  • grafické znázornění trendu procesu pomocí průběhu ukazatelů Pp, Ppk
  • možnost označení náměrů, které nemají být zahrnuty do výpočtu ukazatelů
  • možnost zaznamenání okamžitých opatření, zjištěné vady a případně foto vady přímo do regulační karty k danému náměru
  • funkce pro automatickou detekci podezřelých výrobků na základě naměřených hodnot
  • podpora vizualizace stavu měřeného výrobku pomocí ANDON systému
Q-LanYs - Software SPC systémy a stanice, Statistická regulace procesu
Q-LanYs - Software SPC systémy a stanice, Statistická regulace procesu
Q-LanYs - Software SPC systémy a stanice, Statistická regulace procesu
Q-LanYs - Software SPC systémy a stanice, Statistická regulace procesu
Q-LanYs - Software SPC systémy a stanice, Statistická regulace procesu
Q-LanYs - Software SPC systémy a stanice, Statistická regulace procesu
Q-LanYs - Software SPC systémy a stanice, Statistická regulace procesu
(kliknutím na náhled se zobrazí v novém okně v plné velikosti)
Stáhněte si kompletní katalog s popisem systému Q-LanYs ve formátu PDF.
Pro bližší informace nás kontaktujte.